Fabrication, caractérisation et analyse de défaillances des dispositifs semi-conducteurs

Ce webinaire montrera comment nous pouvons vous aider à fabriquer des dispositifs semi-conducteurs de haute qualité en utilisant des techniques de gravure et de dépôt. Nous explorerons des techniques innovantes d'imagerie et d'analyse pour comprendre et confirmer que le dispositif contient les propriétés souhaitées. Enfin, nous couvrirons les techniques utilisées pour identifier les défauts des dispositifs et analyser leurs défaillances.

Ce que vous allez apprendre:

✅ Les techniques de plasma pour la construction de dispositifs
✅ Optimisation de la fabrication de dispositifs semi-conducteurs à l'aide de procédés de gravure et de dépôt
✅ Utilisation de l'AFM et de l'EDS pour le contrôle des processus et l'analyse des défaillances
✅ Comprendre la construction de dispositifs semi-conducteurs à l'échelle nanométrique.

Notre équipe des ventes en France:

• Christophe Dos Santos, Oxford Instruments Asylum Technology
• Frederic Meyer, PTS France (French Distributor) & Micheal Stokeley, Oxford Instruments Plasma Technology
• Jerome Payen, Oxford Instruments NanoAnalysis