Les analyses EBSD conventionnelles utilisent une transformée d'image, telle que la transformée de Hough, pour identifier les positions des bandes de Kikuchi dans chaque cliché EBSD et pour les comparer avec une table de recherche d'angles interplanaires pour chaque phase candidate. Ce processus d'indexation de clichés est à la fois rapide et robuste, fournissant des données d'excellente qualité à des vitesses supérieures à 5 000 clichés indexés par seconde.
Cependant, une approche alternative à l'indexation des clichés EBSD a été développée ces dernières années, en utilisant les progrès de la simulation des clichés de diffraction et des méthodes de corrélation d'images. Cette nouvelle approche, appelée « pattern matching », gagne en popularité et en fonctionnalités.
La fonctionnalité de correspondance de clichés mise en œuvre dans AZtecCrystal MapSweeper permet tous les types d'amélioration des données EBSD, y compris l'indexation complète, l'amélioration de la qualité des données ou l'extraction de nouvelles informations à partir de modèles EBSD. Ces outils sont basés sur des simulations de clichés dynamiques complets (bien que des simulations à 2 faisceaux et cinématiques puissent être utilisées) et utilisent le coefficient de corrélation croisée normalisé comme métrique la plus robuste pour la similarité entre les clichés.
Dans ce webinaire, vous apprendrez comment fonctionnent les différents modes "Sweep" dans AztecCrystal MapSweeper et comment ils peuvent être utilisés pour améliorer la qualité d'une grande variété d'ensembles de données EBSD.
Ce que vous apprendrez :
- Les principles de ‘Pattern Matching’
- Les différents modes de ‘balayages’ en AztecCrystal MapSweeper
- Quand effectuer une analyse MapSweeper et pour quelles applications
S'inscrire