KPFM 기본 원리 및 응용사례

Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM) 는 전도성 AFM 팁에 인가되는 AC 바이어스와 시료 표면 사이의 전위차를 감지하여 전기 반응을 측정합니다. 전기적 반응에 의해 AFM 팁과 시료 표면 사이에 전위차를 측정할 수 있으며, 측정된 전위차를 이용하여 시료의 전위를 측정할 수 있습니다. 

이 측정은 다양한 전도성 또는 반도체 시료의 전기적 정량적 표면 특성을 제공하는데 이는 물질의 나노스케일 특성과 거동을 이해하는 데 매우 중요합니다. 

이번 웨비나에서는 Large sample AFM, Jupiter XR에 대해 간략히 소개하고 KPFM의 기본 원리와 응용사례에 대해 알기쉽게 풀어보도록 하겠습니다. 

You will learn:

• 원자간력 현미경의 측정 원리
• KPFM 기초 이론 
• KPFM Two path 측정 기술과 응용