EBSD大面积拼接技术分析及应用

内容介绍

讲座主题：大面积拼接 (LAM) 技术分析及应用

演讲者： 肖娜博士东北大学分析测试中心高级实验师

报告人利用牛津仪器 Symmetry S3 EBSD的超快速特点，在相对较短的时间内完成同一样品多区域、大面积EBSD连续测试，这种大面积拼接技术（LAM）可以应用于大面积样品、取向梯度样品等材料的EBSD分析。本报告将介绍大面积拼接技术的方法和步骤，并针对此过程中的重点、难点环节进行了详细介绍和说明。

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