MICROPARTICLE ANALYSIS | METAL & ALLAY

原子力显微镜分析技术及其在新材料研究中的应用

课程简介

近年来，凭借其在提高能源转换效率、促进信息技术革新、增强医疗诊断与治疗能力以及支持环境可持续发展等方面的关键作用，磁性材料需求急剧上升。面对高性能磁性材料的研究与开发问题，进行微观层面上的磁性材料分析与检测变得极为关键。

报告嘉宾

连叶牛津仪器应用科学家

2018年博士毕业于哈尔滨工业大学化学工程与技术专业，博士期间主要研究方向为四元合金的电沉积机理及其性能。目前作为牛津仪器应用科学家，主要负责原子力显微镜的应用推广及技术支持。

相关产品

The Vero atomic force microscope is a next-generation AFM that precisely and accurately measures true tip displacement using Quadrature Phase Differential Interferometry…

Vero: Interferometric AFM

Find out more

The Asylum Research Cypher S is the base model of the Cypher AFM microscope family. The Cypher S was the first commercially available fast-scanning AFM, and the…

Cypher S AFM Microscope

Find out more

The Jupiter XR Atomic Force Microscope is the first and only large-sample AFM to offer both high-speed imaging and extended range in a single scanner. Jupiter provides…