31-01-2025 | Autor: Dr. Daniel Funes-Hernando
La Espectroscopía de Rayos X de Dispersión de Energía (EDS) permite el análisis elemental químico de una muestra dentro de un microscopio electrónico (SEM, TEM, FIB) o una microsonda. Los detectores EDS de Oxford Instruments junto con el software AZtec son un sistema revolucionario de caracterización de materiales que analiza y cuantifica datos precisos a escala micro y nanométrica.
La técnica EDS es utilizada para caracterizar la composición química de las muestras. Cuando un material es estimulado por un haz de electrones, un electrón de un orbital inferior puede ser expulsado, dejando un hueco. Este hueco puede ser llenado por un electrón de un orbital de mayor energía. En ese caso, un rayo X de energía equivalente a la diferencia entre ambos orbitales puede ser liberado. Cada elemento de la tabla periódica puede emitir rayos X de ciertas energías características. El EDS analiza y cuantifica la composición elemental de la muestra con una resolución nanométrica gracias a la identificación de estos rayos X.
Un sistema EDS completo está compuesto por un detector de rayos X, un procesador de pulsos y un analizador. Un detector convierte la energía de los rayos X en pulsos eléctricos; esta información se envía a un procesador de pulsos, que la mide y la transmite a un analizador para su tratamiento, análisis y visualización.
Los espectrómetros EDS son una pieza clave en los microscopios electrónicos. Para obtener más información sobre la técnica EDS, le invitamos a contactar con un especialista de Oxford Instruments aquí.
Dr Daniel Funes-Hernando,
Applications Scientist, Oxford Instruments
Daniel is a scientist with a multidisciplinary background and a deep expertise in microscopy and spectroscopy systems, as well as in supporting other scientists and engineers in developing their projects.
He obtained his PhD at Institut des Matériaux at Nantes in nanomaterials, plasmonics, and optoelectronics. Following this, he worked as a Postdoctoral Researcher at L’École Polytechnique in Paris where he designed and developed innovative physico-chemical surface characterization techniques.
He joined Oxford Instruments in 2024 as an Applications Scientist. He delivers advanced solutions to electron microscope users in the fields of materials, electronics, pharma, research, and industry.
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